Главная / Тестирование / Системы температурных испытаний (термостримы)

Системы температурных испытаний (термостримы)

Мобильные температурные испытательные системы (термострим) серии ТА-5000 для сверхбыстрых испытаний микросхем, электронных компонентов и модулей в диапазонах температур Система температурных испытаний (термострим) серии ТА-5000: -80°C ÷ 225°C. Система температурных испытаний (термострим) ТА-5000AHT: -90°C ÷ 300°C Система температурных испытаний (термострим) ТА-3000A Система температурных испытаний (термострим) ТА-3000A: -65°C ÷ 225°C. Система температурных испытаний (термострим) ТА-1000A Система температурных испытаний (термострим) ТА-1000A: -25°C ÷ 225°C. Система температурных испытаний (термострим) серии TA-5000 с различными камерами Система температурных испытаний (термострим) серии TA-5000 с различными камерами Система температурных испытаний (термострим) TA-3000B Система температурных испытаний (термострим) TA-3000B: -65°C ÷ 225°C. Система температурных испытаний (термострим) ТА-1000B Система температурных испытаний (термострим) ТА-1000B: -25°C ÷ 225°C. Система температурных испытаний (термострим) ТА-5000B Система температурных испытаний (термострим) ТА-5000B: -80°C ÷ 225°C. Чиллер (холодильная установка) TC-100 Чиллер (специальная холодильная установка) TC-100, constant -80°C