Разработка, изготовление, поставка различного типа устройств контактных с фиксированной топологией зондов, пробкарт, жестких зондовых головок, УКФ.

Разработка, изготовление, поставка различных УКФ / пробкарт (проб карт, проб-карт, probe cards) / жестких зондовых головок / устройств контактных фиксированных / устройств контактных с фиксированной топологией зондов / зондовых сборок для зондового контроля на зондовых установках (зондовых станциях) при тестировании кристаллов полупроводниковых пластин.

УКФ / пробкарта (проб карта, проб-карта, probe card) для зондовой станции (зондовой установки), функционального контроля / жесткая зондовая головка / устройство контактное фиксированное / устройство контактное с фиксированным расположением зондов / устройство контактное для микросхем / устройство контактное для кристаллов / контактирующее устройство для микросхем / контактирующее устройство для кристаллов / зондовая сборка  используются в составе зондовых установок (зондовых станций) для осуществления электрического контакта с кристаллами при измерениях на полупроводниковой пластине.