Разработка, изготовление, поставка: проб-карты (проб карты, пробкарты, probe cards), УКФ, жесткие зондовые головки, устройства контактные с фиксированной жесткой топологией зондов, устройства контактные фиксированные для тестирования на зондовой станции

Разработка, изготовление, поставка различных УКФ / пробкарт (проб карт, проб-карт, probe cards, probecards, probe-cards) / жестких зондовых головок / устройств контактных фиксированных / устройств контактных с жесткой фиксированной топологией зондов / зондовых сборок для зондового контроля на зондах, зондовых установках, зондовых станциях, проберах при тестировании кристаллов микросхем и электронных компонентов на полупроводниковых пластинах.

Пробкарта (проб карта, проб-карта, probe card, probecard, probe-card), УКФ для зондовой станции (зондовой установки), параметрических и функциональных контроля, тестирования, измерений / жесткая зондовая головка / многоконтактные зонды / зондики / устройство контактное фиксированное / устройство контактное с жестким фиксированным расположением зондов / устройство контактное для микросхем / устройство контактное с жесткой фиксированной топологией зондов / устройство контактное для кристаллов, пластин / контактирующее устройство для микросхем / контактирующее устройство для кристаллов, пластин / пробники / микропозиционеры / позиционеры / микроманипуляторы / манипуляторы / зондовая сборка  используются в составе зондов, зондовых установок, зондовых станций, проберов для осуществления электрического контакта с кристаллами микросхем и электронных компонентов при измерениях, тестировании, контроле на полупроводниковой пластине.