ГРУППА ДТС
Оборудование для микроэлектроники
+7 (499) 390-31-00
info@dtcm.ru
Обратный звонок
Главная
О нас
Сборка
Сортировка кристаллов
Автоматический сортировщик серии MP
Полуавтоматические сортировщики кристаллов серии DE
Автоматический сортировщик серии AP+
Плазменная очистка поверхности
Плазменная очистка, модели серии 100
Плазменная очистка, модели серии 200
Монтаж кристаллов
Установки монтажа кристаллов (установка монтажа флип чип кристаллов) серии 800
Герметизация: роликовая шовная сварка
Герметизация: контактная конденсаторная сварка
Установки прихватки крышек
Тестирование
Системы температурных испытаний (термостримы)
Система температурных испытаний (термострим) серии ТА-5000
Система температурных испытаний (термострим) ТА-5000AHT
Система температурных испытаний (термострим) ТА-3000A
Система температурных испытаний (термострим) ТА-1000A
Система температурных испытаний (термострим) серии TA-5000 с различными камерами
Система температурных испытаний (термострим) TA-3000B
Система температурных испытаний (термострим) ТА-1000B
Система температурных испытаний (термострим) ТА-5000B
Чиллер (холодильная установка) TC-100, constant -80°C
Тестеры соединений
Универсальный тестер соединений модель 650
Универсальный тестер соединений модель 620
Тестер соединений на отрыв модель 610 (до 100 г)
Лазерная подгонка микроэлектроники
Ручная и полуавтоматическая лазерная подгонка
Автоматическая лазерная подгонка
Микроскопы для микроэлектроники
Микроскопы для микроэлектроники
Объективы Mitutoyo
Зондовые установки (зондовые станции)
Аналитические ручные зондовые установки (зондовые станции)
Полуавтоматические зондовые установки (зондовые станции)
Манипуляторы (микропозиционеры) для зондового тестирования
Манипуляторы (микропозиционеры) для зондовых станций (зондовых установок)
Тестеры микросхем
Тестеры электронных компонентов
Лазерная подгонка микроэлектроники
Спец. испытания
Ударные стенды
Центрифуги
Оптические тестеры герметичности электронных компонентов
Тестеры статического электричества
Тестеры посторонних частиц
Тестеры грубых и малых течей
Услуги
Изготовление: УКФ, проб-карты (проб карты, пробкарты, probe cards), жесткие зондовые головки, устройства контактные фиксированные с фиксированной жесткой топологией зондов для зондовых станций
Первичная аттестация оборудования
Контакты
Главная
/
Тестирование
/ Лазерная подгонка микроэлектроники
Лазерная подгонка микроэлектроники
Ручная и полуавтоматическая лазерная подгонка
Автоматическая лазерная подгонка
Обратный звонок
Ваше имя:
*
Номер телефона:
*
Комментарий:
Отправить