ГРУППА ДТС
Оборудование для микроэлектроники
+7 (499) 390-31-00
info@dtcm.ru
Обратный звонок
Главная
О нас
Сборка
Сортировка кристаллов
Автоматический сортировщик серии MP
Полуавтоматические сортировщики кристаллов серии DE
Автоматический сортировщик серии AP+
Плазменная очистка поверхности
Плазменная очистка, модели серии 100
Плазменная очистка, модели серии 200
Монтаж кристаллов
Установки монтажа кристаллов (установка монтажа флип чип кристаллов) серии 800
Герметизация: роликовая шовная сварка
Герметизация: контактная конденсаторная сварка
Установки прихватки крышек
Тестирование
Системы температурных испытаний (термостримы)
Система температурных испытаний (термострим) серии ТА-5000
Система температурных испытаний (термострим) ТА-5000AHT
Система температурных испытаний (термострим) ТА-3000A
Система температурных испытаний (термострим) ТА-1000A
Система температурных испытаний (термострим) серии TA-5000 с различными камерами
Система температурных испытаний (термострим) TA-3000B
Система температурных испытаний (термострим) ТА-1000B
Система температурных испытаний (термострим) ТА-5000B
Чиллер (холодильная установка) TC-100, constant -80°C
Тестеры соединений
Универсальный тестер соединений модель 650
Универсальный тестер соединений модель 620
Тестер соединений на отрыв модель 610 (до 100 г)
Лазерная подгонка микроэлектроники
Микроскопы для микроэлектроники
Микроскопы для микроэлектроники
Объективы Mitutoyo
Зондовые установки
Манипуляторы (микропозиционеры) для зондового тестирования
Тестеры микросхем
Тестеры электронных компонентов
Спец. испытания
Ударные стенды
Центрифуги
Оптические тестеры герметичности электронных компонентов
Тестеры статического электричества
Тестеры посторонних частиц
Тестеры грубых и малых течей
Услуги
Изготовление УКФ - пробкарт - жестких зондовых головок
Первичная аттестация оборудования
Контакты
Главная
/
Тестирование
/ Лазерная подгонка
Лазерная подгонка
Установки лазерной подгонки с размером пятна от 1 мкм
Обратный звонок
Ваше имя:
*
Номер телефона:
*
Комментарий:
Отправить