Разработка, изготовление, поставка различного типа устройств контактных с фиксированной топологией зондов, пробкарт, жестких зондовых головок, УКФ.
Разработка, изготовление, поставка различного типа УКФ / проб карт (probe cards) / жестких зондовых головок / устройств контактных фиксированных / устройств контактных с фиксированной топологией зондов для зондового контроля на зондовых установках при тестировании кристаллов полупроводниковых пластин.
УКФ / проб карта (probe card) / жесткая зондовая головка / устройство контактное фиксированное / устройство контактное с фиксированным расположением зондов / устройство контактное для микросхем / устройство контактное для кристаллов / контактирующее устройство для микросхем / контактирующее устройство для кристаллов используются в составе зондовых станций для осуществления электрического контакта с кристаллами при измерениях на полупроводниковой пластине.