Тестеры посторонних частиц

Тестеры посторонних частиц предназначены для обнаружения посторонних частиц в изделиях микроэлектроники (микросхемы, электронные компоненты и модули в соответствующих корпусах). Тестеры посторонних частиц предназначены для тестирования ЭКБ - электронной компонентной базы (микросхемы, электронные компоненты и модули в соответствующих корпусах) по соответствующим стандартам.